DOI：10.16661 / j.cnki.1672-3791.2017.25.053目前使用的電纜相序驗證方法有很多測試步驟，使用時間，測試電壓高，測試結果如下：受測試人員的溝通情況和施工現場的嘈雜情況影響很大。了解決這些問題，本文提出了一種基于單片機電路檢測電纜相序的方法，該方法可以通過單線進行電纜的相序驗證，并提高工作效率。
　　文介紹了實施此方法的基本原則和思路，并檢查了效果的準確性和效率。鍵詞：核相法，電纜相序，控制，效率，中圖分類號：TM71文獻標識碼：A貨號：1672-3791（2017）09（a）-0053-02交聯處分配系統(tǒng)中常用的三個核心對于乙烯絕緣電纜線路，由于存在中間密封，接線盒等，電纜兩端的相序可能不匹配。電力系統(tǒng)中，電纜兩端的相序不匹配，這將導致線路的相序不正確，使得兩條接觸線無法供電而三相電機用戶方將被撤銷。外，當電纜連接到網絡機柜，接線盒或塔架時，相序的重疊是不正確的。果在電力傳輸后相序不正確，請關閉電源并更換電纜相序以增加電源切斷時間。無助于提高可靠性并破壞品牌形象。此，在電纜線的新建和改造中，在創(chuàng)建電纜終端或中間密封時，必須驗證電纜線兩端的相序，以保證電纜線的順序。纜線兩端的相位。規(guī)方法和存在的問題常規(guī)方法在電纜的構造中，通常使用萬用表或絕緣電阻計來測試電纜的相序。1是電纜相序測試的示意圖當使用萬用表或絕緣電阻表作為測試電纜相序的測試儀器時，兩組測試儀必須可用。
　　纜的A端和B端。測試開始時，一旦電纜完全放電，A處的測試儀要求B處的測試儀通過對講機或移動電話將電纜接地。試人員A測試測試儀的電阻。相電纜的核心到地線。阻值為0Ω的相可以認為與B質量相位處于同一相位，此時，A側人員將通知B側更換B相。過對講機或電話將電纜接地，并根據上述方法在A級重復測試。旦服務B人員更換測試接線三次，服務A人員完成測試以確定電纜兩端的三相相序之間的對應關系。在的問題當前的相序驗證方法很重，并且重復布線和通信。2是使用絕緣電阻計測試電纜相序的流程圖。測試之前，A處的測試儀首先確認B處的測試儀已將電纜的第一相接地，然后可以在A處執(zhí)行三次測量并依次測量電纜的三相磁芯對地的電阻。試完成后，請B的工作人員將未接地的兩相電纜導線完全放電，然后再送到B點接地的第二相電纜。責A的測試人員反復將電纜的三相導體的電阻接地。
　　重復該操作3次之后，可以確定電纜的相序。時，測試方法在測試中成功的概率不高。纜結構一般位于市區(qū)，施工區(qū)內車輛和人員連接緊密，環(huán)境噪聲較大，外部環(huán)境對測試結果有一定影響，可能會對A和B測試人員理解另一方的指示并理解另一方的意圖，導致檢查階段順序時出錯。者多次重復檢查。
　　外，隔離相位計數器用于檢查電纜的相序，測試電壓高，測試儀有觸電危險。用絕緣電阻表測試電纜的相序時，請使用500~2500 V的絕緣電阻表。試完成后，如果測試電纜未及時放電或者如果放電不足，測試儀將受到電擊。用萬用表測試電纜的相序。試完成后，不再需要將電纜同相放電，其他步驟與使用絕緣電阻表的電路相同。于單片機的相序驗證方法相序控制原理圖3是基于單片機的相序驗證方法的框圖。
　　X環(huán)的電纜末端的相位是分別連接到單芯片微型計算機的三個端口，芯片電源的接地的端部連接到電纜的銅屏蔽，的三相芯電纜的Y端連接到三個LED，LED的另一端連接到其電纜。屏蔽連接。電纜的X端為參考，三相磁芯分別標記為A，B和C相。

　　芯片電路依次向三相磁芯A，B，C發(fā)送高電平同步信號，信號波形如圖4所示。一個高電平通過電纜的核心并到達Y端.Y端子首先連接到由LED連接的LED的中心，其對應于X端的末端A;第二個LED亮起。
　　纜的核心是X的B端。接到第三個LED的電纜的核心是X端的C。時，測試完成，礦用電纜三個LED同時點亮兩次。間標志著考試的結束。此，可以通過確定Y端的三個LED點亮的順序來完成電纜相序的驗證。
　　送器端子原理連接到單片機電路，采用8引腳單片機STC15F104W，P3.0，P3.1，P3.2作為輸出端口，依次產生高電平。果驗證將器件應用于相序控制電纜的構造，并將測試結果與傳統(tǒng)方法測試的結果進行比較，以確認器件測試結果是否正確并且測試器是否正確。需要一根導線即可完成電纜的相序測試，簡化了測試步驟，大大縮短了測試時間。圖2中可以看出，重復了相序收集的傳統(tǒng)方法，步驟很多，并且測試需要17個步驟。比之下，如圖5所示，為了使用該裝置測試電纜的相序，測試步驟的數量減少到六個，這提高了工作效率。時，由于避免了傳統(tǒng)測試方法中的重復通信問題，降低了測試過程中由于通信不良或環(huán)境噪聲引起的錯誤概率，提高了測試的準確性。纜相序測試儀的測試電壓為5V，低于36V的安全電壓，從而消除了測試人員的電擊風險。用這種單芯片芯片相序驗證方法可以提高測試效率，減少測試步驟，降低通信不良或環(huán)境噪聲引起的錯誤風險在測試過程中，消除10kV 3極電纜中測試儀的電擊風險。序控制具有良好的應用前景。
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